無損鍍銀測厚儀 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射線熒光光譜法(EDXRF)作為鍍層厚度測量和材料分析的方法,可用來定量和定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。無論是在實驗室還是工業生產環境中,這一方法都能完美勝任,并還可以與現代化設備一起發揮作用。
查看詳細介紹德國菲希爾fischer xdl-230 鍍層膜厚測試儀 德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。
查看詳細介紹fischer xay xdl230德國菲希爾代理 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。
查看詳細介紹共 3 條記錄,當前 1 / 1 頁 首頁 上一頁 下一頁 末頁 跳轉到第頁