qnix4500膜厚儀說明書 QNix®4200/4500 測厚儀采用良好的電子技術,能滿足各種不同的測量要 求。高精度的設備,堅固的結構和便于使用等特點使得該儀器具有廣泛的應用。分體型說明: QNix®4200P、QNix®4200P5、QNix®4500P、QNix®4500P5 采用有線分體型設 計,測量方便、穩定、準確,探頭連接線堅固耐用,還可滿足一些狹小空間的測 量。探頭線和探頭可更換
尼克斯膜厚儀又名膜厚測試儀,分為手持式和臺式二種,手持式又有磁感應鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理是,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。
QNix 4500德國尼克斯膜厚儀分為手持式和臺式二種,手持式又有磁感應鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理是,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。
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