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產(chǎn)品名稱： |
fischer膜厚儀 |
發(fā)布時(shí)間： |
2024-09-02 |
產(chǎn)品品牌： |
Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 |
產(chǎn)品特點(diǎn)： |
fischer膜厚儀ISOSCOPE®、 DELTASCOPE® 和DUALSCOPE® 手持式儀 器，配合各種探頭使用，可以簡(jiǎn)單、快速地測(cè)量涂鍍層的厚度。FISCHERSCOPE® MMS® PC, 集成了磁感應(yīng)法、渦流法和BETA背反射法的多功能測(cè)量系統(tǒng)，用于測(cè)量鍍層厚度和材料測(cè)試 |
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無(wú)損檢測(cè)fischer膜厚儀的詳細(xì)資料： |
fischer膜厚儀 FISCHER—讓測(cè)量變得簡(jiǎn)便 現(xiàn)今，F(xiàn)ISCHER 的測(cè)量和分析儀器廣泛應(yīng)用于世界各個(gè)領(lǐng)域，可滿足客戶對(duì)高精度、高可靠性測(cè)量和操作簡(jiǎn)便的需求。我們通過專業(yè)的咨詢服務(wù)為客戶提供理想的解決方案，即從第*次接觸開始，不斷溝通，直至達(dá)到定制化服務(wù)的理念。這些緊密合作與我們的創(chuàng)新驅(qū)動(dòng)力不斷結(jié)合，為形成新的測(cè)量解決方案奠定了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。ISOSCOPE®、 DELTASCOPE® 和DUALSCOPE® 手持式儀 器，配合各種探頭使用，可以簡(jiǎn)單、快速地測(cè)量涂鍍層的厚度。FISCHERSCOPE® MMS® PC, 集成了磁感應(yīng)法、渦流法和BETA背反射法的多功能測(cè)量系統(tǒng)，用于測(cè)量鍍層厚度和材料測(cè)試。FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 基于X射線熒光法，用于測(cè)量鍍層厚度和材料分析 。 篤摯儀器 為客戶提供廣泛的產(chǎn)品選擇。以有效的方式滿足客戶的需求。產(chǎn)品和務(wù)價(jià)格實(shí)惠，歡迎電詢！ 我公司還經(jīng)營(yíng)世界的進(jìn)口全新設(shè)備如：英國(guó)泰勒霍普森 （Taylor Hobson）、捷克吉爾斯派克 （gearSpect Group）、德國(guó)菲希爾 （Helmut Fischer）、德國(guó)EPK、荷蘭InnovaTest、瑞士TRIMOS、美國(guó)奧林巴斯（ Olympus）、美國(guó)雷泰( Raytek)等世界較有名廠家生產(chǎn)的粗糙度儀、圓柱齒輪測(cè)量?jī)x、涂鍍層測(cè)厚儀、各種硬度計(jì)、測(cè)高儀、超聲波探傷儀、DO-2 K PC錐齒輪單面嚙合測(cè)量?jī)x等。 涂鍍層測(cè)厚儀：  | 膜厚測(cè)量： 無(wú)論是在鐵磁性材料上還是在非鐵磁性材料上測(cè)量涂層厚度或電鍍層厚度，您都可以在FISCHER功能強(qiáng)大的手持式儀器分類中找到合適的便攜式測(cè)厚儀。無(wú)論您有什么樣的測(cè)量需求，又或者要面對(duì)多少種不同的基體材料， FISCHER 的儀器和探頭必能讓您的測(cè)量手到擒來(lái)。根據(jù)您的需求選擇合適的型號(hào)，點(diǎn)擊查看詳細(xì)信息，如有任何疑問，或是想了解fischer更多產(chǎn)品信息，如：可選探頭、校準(zhǔn)片、X-RAY膜厚儀、孔隙率測(cè)試儀等歡迎在線留言或電詢！ |
| fischer膜厚儀MP0 | | 膜厚儀MP0R/MP0R-FP | 
小巧、便攜、耐用的雙功能涂層測(cè)厚儀： •無(wú)需校準(zhǔn)即可測(cè)量。
•執(zhí)行簡(jiǎn)易的零點(diǎn)校正
•統(tǒng)計(jì)功能（含平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差/大值/小值）
•快速的單手操作：置于工件上即可看到測(cè)量讀數(shù)
•兩個(gè)背光LCD顯示屏，可方便地在儀器的任何位置
•自動(dòng)開機(jī)/關(guān)機(jī)功能
•加固處理及有硬質(zhì)鍍層的探頭，儀器經(jīng)久耐用
•連續(xù)測(cè)量模式可掃描工件涂鍍層厚度如：大容器結(jié)構(gòu) | | 
通過USB端口可以與電腦相連,探頭由連接電纜連接： ※ 儀器集成了探頭，便于操作，出色的重復(fù)精度
※ 快速的單手操作：置于工件上即可看到測(cè)量讀數(shù)
※ 兩個(gè)背光液晶顯示屏，從各個(gè)角度讀取測(cè)量值
※ 具有非磁性基材的導(dǎo)電率補(bǔ)償
※ 記錄測(cè)量值時(shí)可以發(fā)出聲音和視覺的信號(hào)
※ 通過按鈕進(jìn)行統(tǒng)計(jì)評(píng)估:
※ 至多可存儲(chǔ)10000個(gè)數(shù)據(jù)
※ 應(yīng)用廣泛：防腐蝕、油漆、建筑、造船工業(yè)等 |
| FMP10 | FMP20 | | FMP30 | FMP40 |  | 手持式FMP系列是基于磁感應(yīng)法(DELTACOPE),電渦流(ISOSCOPE)和兩用方法(DUALSCOPE), 采用了可更換探頭的設(shè)計(jì)，非常適用于對(duì)涂鍍層進(jìn)行無(wú)損測(cè)量。儀器的模塊化設(shè)計(jì)，可供客戶根據(jù)不同的測(cè)量需求選配不同的測(cè)量系統(tǒng).除了眾多的測(cè)厚儀機(jī)型之外, FISCHER公司還向客戶提供大量不同功能的高精度探頭. DeltascopeFMP10和FMP30機(jī)型適用于測(cè)量鐵基體上涂鍍層厚度。 Isocope FMP10和FMP30機(jī)型是專為高精度測(cè)量非鐵 金屬上的超薄涂鍍層厚度而設(shè)計(jì)的。Dualscope FMP20和FMP40機(jī)型可以測(cè)量幾乎所有金屬底材上的涂鍍層厚度。 | | FMP10和FMP20型測(cè)厚儀是專業(yè)便攜式測(cè)量系統(tǒng)中的入門級(jí)機(jī)型，是現(xiàn)場(chǎng)檢查和控制測(cè)量的理想選擇。它們操作簡(jiǎn)便，機(jī)體堅(jiān)固并配有一塊高對(duì)比度彩色顯示屏和一個(gè)USB端口，可以輕松地將測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)诫娔X，并通過便利的FISCHER DataCenter軟件進(jìn)行計(jì)算和儲(chǔ)存.FMP30和FMP40型儀器為測(cè)量數(shù)據(jù)的獲取提供了多的策略,為儲(chǔ)存客戶自定義的測(cè)量應(yīng)用提供更多的空間多可以儲(chǔ)存20000個(gè)數(shù)據(jù)，更是提供了藍(lán)牙數(shù)據(jù)傳輸功能。大量的圖形和統(tǒng)計(jì)功能使其能更適用于復(fù)雜的測(cè)量應(yīng)用. 另外儀器可以根據(jù)內(nèi)置的IMO PSPC、SSPC-PA2,QUALANOD 和 QUALICOAT規(guī)則進(jìn)行測(cè)量。 |
| | | Dualscope FMP100/150 | 
| Dualscope FMP100是一款功能強(qiáng)大、界面友好的涂鍍層測(cè)厚儀，可以滿足眾多不同的測(cè)量需求。它集成了磁感應(yīng)法和電渦流法于一體并可裝配各種不同的高精度探頭，即使在不斷變化的測(cè)量條件下，它都能很好的完成各種測(cè)量任務(wù)。它采用的Windows™ CE操作系統(tǒng)，擁有圖形用戶界面和高分辨率的觸摸顯示屏，并配備了可儲(chǔ)存幾千個(gè)測(cè)量程式的存儲(chǔ)空間和眾多的統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能，使其成為專業(yè)涂鍍層測(cè)試領(lǐng)域的*解決方案。無(wú)論是用于汽車業(yè)、電鍍業(yè)、陽(yáng)極氧化應(yīng)用、防腐層耐用性測(cè)試還是精細(xì)涂層領(lǐng)域，在所有情況下，這款儀器一定會(huì)為您提供高的準(zhǔn)確度和準(zhǔn)確性。DualscopeFMP150進(jìn)一步配備了第三種測(cè)量原理，即磁性法。它除了采用磁感應(yīng)法和電渦流法測(cè)量涂鍍層厚度外，還可以測(cè)量非磁性金屬底材上鎳鍍層的厚度。 |
| SR-SCOPE® RMP30-S銅箔測(cè)厚儀 | | COULOSCOPE® CMS2庫(kù)侖測(cè)厚儀 |  | |  | 通過電阻法無(wú)損測(cè)量印制電路板上銅鍍層的厚度。由于儀器能不受中間銅層和背面銅層的影響，因而特別適合多層板及超薄板上頂層銅箔厚度的測(cè)量。 | | CMS 型儀器可以快速、準(zhǔn)確地測(cè)量任何基材上幾乎所有金屬鍍層的厚度，甚至是多鍍層的厚度。它的測(cè)量是一個(gè) 通過庫(kù)侖法進(jìn)行反電鍍的過程。儀器采用了菜單式界面、 操作簡(jiǎn)便是對(duì)電鍍產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控和來(lái)料檢驗(yàn)的理想選擇。CMS2 STEP型儀器用于對(duì)鍍層厚度和電位差進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化 STEP測(cè)試。 例如：對(duì)多層鎳產(chǎn)品的質(zhì)量控制。STEP (Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination) 是一種針對(duì)多層鎳系統(tǒng)，在測(cè)量每個(gè)單獨(dú)的鍍層厚度的同時(shí)還能測(cè)定相鄰鍍層的電位差的方法。對(duì)于鍍層厚度的測(cè)量是基于庫(kù)侖法，而電位曲線則是使用帶有AgCl鍍層的銀制參比電極進(jìn)行測(cè)量。 | | PHASCOPE® PMP10/PMP10 Duplex | |  | | 主要用于在電鍍和PCB行業(yè)中對(duì)各種基材上的金屬鍍層的厚度進(jìn)行質(zhì)量控制。無(wú)論樣品表面是否平滑， PMP10都可以準(zhǔn)確測(cè)量鐵基材上的鍍鎳層、鍍銅層和鍍鋅層的厚度； 它還能對(duì)印制電路板上的銅層厚度，甚至是孔內(nèi)銅層的厚度進(jìn)行測(cè)量。PMP10 Duplex型儀器是專為汽車行業(yè)測(cè)量雙鍍層而開發(fā)的（例如：油漆/Zn/Fe)通過一次測(cè)量就能同時(shí)獲得和顯示兩層涂鍍層各自的厚度。它還可以測(cè)量鋁材上油漆層的厚度。 | |  |
| FischerScope MMS/FischerScope MMS PC2 | 帶內(nèi)置 Windows™ CE操作系統(tǒng)和網(wǎng)絡(luò)互聯(lián)功能的臺(tái)式多功能測(cè)量系統(tǒng)，尤其適合于無(wú)損，高精度的鍍層厚度測(cè) 量及材料測(cè)試。操作 MMS PC2可以使用大尺寸且高分辨率的彩色觸摸屏，或是鍵盤和鼠標(biāo)。帶有LANUSB接口，可集成于自動(dòng)生產(chǎn)線中。此外，可以同時(shí)使用多8個(gè)探頭進(jìn)行測(cè)量。MMS PC2的模塊化設(shè)計(jì)，允許對(duì)儀器按客戶的 要求進(jìn)行配備，并可以在需要的時(shí)候配備其它的模塊和探頭 進(jìn)行升級(jí)改進(jìn)根據(jù)需求可以在儀器上采用不同的測(cè)量方法 ，如電渦流法、磁性法、感應(yīng)法或電阻法等。能測(cè)量金屬 上幾乎所有材料的鍍層厚度，以及非電材料上的金屬鍍層 厚度。它還可以用來(lái)測(cè)定非鐵磁金屬的電導(dǎo)率和測(cè)量奧氏體或雙相鋼材中的鐵素體含量。 使用BETASCOPE® 模塊，可按 beta 背散射方法測(cè)量不同底材上有機(jī)物和金屬鍍層的厚度，也就意味著可以測(cè)量任意底材上的任意涂層，只要兩材料間的原子序數(shù)差達(dá)到5以上。配上適合的探頭，出于質(zhì)量控制目的，甚至能測(cè)量軟性鍍層和潤(rùn)滑鍍層的厚度，如不銹鋼上的有機(jī)納膜（防指紋膜）或是金屬板生產(chǎn)加工過程中的防銹油層。 | | 
在配備了合適的測(cè)量模塊后， MMS PC2可靈活運(yùn)用于來(lái)料檢驗(yàn),出廠檢驗(yàn),或是生產(chǎn)控等。能提供多種數(shù)據(jù)報(bào)告方式,并通過FISCHER的FDD軟件進(jìn)行質(zhì)量過程控制.還可以方便建立自動(dòng)測(cè)量，因?yàn)闇y(cè)量系統(tǒng)可以直接控制馬達(dá)的測(cè)量臺(tái)或XY樣品臺(tái)，并通過LAN及I/O模塊嵌入自動(dòng)生產(chǎn)線。 |
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| 產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字： fischer膜厚儀 fischer 涂鍍層測(cè)厚儀 膜厚測(cè)量 |
| 如果你對(duì)無(wú)損檢測(cè)fischer膜厚儀感興趣，想了解更詳細(xì)的產(chǎn)品信息，填寫下表直接與廠家聯(lián)系： |
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