三坐標(biāo)探頭 雷尼紹tp200價(jià)格
TP200:具有模塊交換功能的超小型應(yīng)變片式測頭
 | 特性與優(yōu)點(diǎn)- 應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測量
- 零復(fù)位誤差
- 無各向同性影響
- 六向測量能力
- 測針測量距離達(dá)100 mm（GF測針）
- 快速測頭模塊交換，無需重新標(biāo)定測尖
- 壽命 >1000萬次觸發(fā)
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雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價(jià)比的系統(tǒng)，既可在手動(dòng)坐標(biāo)測量機(jī)上進(jìn)行簡單的性能檢測，也可在數(shù)控高速機(jī)器上進(jìn)行復(fù)雜輪廓測量。
觸發(fā)式測頭測量離散的點(diǎn)，是檢測三維幾何工件的理想選擇。
雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價(jià)比的系統(tǒng)，既可在手動(dòng)坐標(biāo)測量機(jī)上進(jìn)行簡單的性能檢測，也可在數(shù)控高速機(jī)器上進(jìn)行復(fù)雜輪廓測量。
TP200 / TP200B測頭本體
TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測量，即使配用長測針時(shí)也不例外。
傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長測針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。
請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針。
附件：
TP200測針模塊
測針模塊通過高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭過行程保護(hù)功能。
有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的過行程測力。
模塊 | SF（標(biāo)準(zhǔn)測力） | LF（低測力） | EO（長過行程） |
|---|
應(yīng)用 | 一般使用。 | 小直徑測球或必須使用小測力的場合。 | 額外過行程使坐標(biāo)測量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
說明 | 測針長可達(dá)100 mm，測球直徑 > 1 mm。 | 測球直徑小于1 mm。 | 與SF的過行程測力相同。 測頭Z軸的額外過行程為8 mm。 |
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英國Renishaw雷尼紹
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