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PH20五軸觸發(fā)式測座Renishaw

傳統(tǒng)的觸摸觸發(fā)測量方法依賴于加快CMM的3個軸的運(yùn)動來快速測量——PH20采用了為屢獲殊榮的REVO系統(tǒng)開發(fā)的頭部運(yùn)動技術(shù)，以*大限度地減小CMM在更高測量速度下的動態(tài)誤差。
PH20*的“頭部接觸”允許只移動頭部而不是CMM結(jié)構(gòu)來獲取測量點(diǎn)。取點(diǎn)更快，準(zhǔn)確度和可重復(fù)性更高。5軸運(yùn)動消除了為頭部建立索引所花費(fèi)的時(shí)間。與傳統(tǒng)系統(tǒng)相比，這些速度的提高使吞吐量提高了3倍。
PH20的無限定位能力保證了*佳的功能訪問，大限度地減少了觸針的更換。5軸同步運(yùn)動通過減少頭部旋轉(zhuǎn)所需的零件周圍空間，允許在CMM上測量較大的零件。PH20自動與零件坐標(biāo)系對齊，避免觸針碰撞和對準(zhǔn)確夾具的要求。

動動你的頭！性能更佳

傳統(tǒng)觸發(fā)測量方法依靠加快坐標(biāo)測量機(jī)的三軸運(yùn)動速度進(jìn)行快速測量，PH20與之不同，它采用為REVO系統(tǒng)（曾獲得多項(xiàng)殊榮）開發(fā)的測座運(yùn)動技術(shù)，可在較高的測量速度下將坐標(biāo)測量機(jī)的動態(tài)誤差降至低。

PH20*的“測座碰觸”可以僅通過移動測座而不是坐標(biāo)測量機(jī)結(jié)構(gòu)，來采集測量點(diǎn)。可以更快地采集測量點(diǎn)，并且提高了精度和可重復(fù)性。

此外，五軸聯(lián)動可省去測座旋轉(zhuǎn)定位時(shí)間。綜合上述因素，這些速度的顯著提高使得新系統(tǒng)的測量效率比傳統(tǒng)系統(tǒng)提高了兩倍。

更快標(biāo)定

為PH20開發(fā)的*“推論標(biāo)定”技術(shù)可一次確定測座方向和測頭位置，從而實(shí)現(xiàn)以任意測座角度完成后續(xù)測量。其他模塊在使用之前，只需簡單在標(biāo)準(zhǔn)球上測量幾個點(diǎn)即可。（如果需要提高測量精度，可循待測特征的方向單獨(dú)進(jìn)行測尖校正）。

由于為符合質(zhì)量管理程序或在測頭碰撞后，定期重復(fù)進(jìn)行標(biāo)定過程，因此日積月累，可以節(jié)省大量的時(shí)間。

內(nèi)置行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)TP20測頭

PH20測座的用戶可以直接配用一系列成熟的TP20測頭模塊，提供各種測力、方向感應(yīng)選項(xiàng)和加長桿，以滿足應(yīng)用需求。磁力式模塊可提供碰撞保護(hù)，并可以利用TCR20交換架實(shí)現(xiàn)自動交換。

篤摯儀器提供的產(chǎn)品有：圓度儀，圓柱度儀，輪廓測量儀，表面粗糙度儀，三坐標(biāo)測量機(jī)，便攜式三坐標(biāo)測量臂，測高儀，高度儀、影像測量儀，萬能測長儀，測量投影儀，日本三豐量具，瑞士TESA量具，德國馬爾量具，金相顯微鏡，萬能工具顯微鏡，掃描電子顯微鏡，涂鍍層測厚儀，超聲波測厚儀，凸輪軸綜合測量機(jī)，曲軸綜合測量機(jī)，齒輪測量中心，直讀光譜儀，便攜式光譜儀，合金元素分析儀，重金屬元素分析儀，貴金屬元素檢測儀，液相色譜儀，殘余應(yīng)力分析儀，精密計(jì)量檢測儀器；產(chǎn)品涵蓋長度計(jì)量儀器、試驗(yàn)儀器、測繪儀器、分析儀器、實(shí)驗(yàn)儀器、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備、建筑儀器、光學(xué)儀器、無損檢測等。