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鍍層測厚儀測量精度受到影響的因素有什么?
點擊次數(shù):717 更新時間:2022-06-06
 
  鍍層測厚儀在使用過程中需要注意哪幾個方面:
  1、對于磁性方法,標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似;對于渦流方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
  2、檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度。
  3、不應(yīng)在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測量。
  4、不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。
  5、通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同,因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測量,表面粗造時更應(yīng)如此。
  6、測量前,應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
  鍍層測厚儀測量精度受到影響的因素有什么?
  1.磁場:
  周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場,會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。
  2.附著物質(zhì):
  測厚儀對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
  3.探頭的取向:
  測頭的放置方式對測量有影響。在測量中,應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。
  4.曲率:
  試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。
  5.試件的變形:
  測頭會使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上不能測出可靠的數(shù)據(jù)。
  6.探頭壓力:
  測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù),因此,要保持壓力恒定。
 
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